Sexta-feira, 24 de Outubro de 2025

Microscópio óptico enxerga átomos com resolução de 1 nanômetro

Microscópio captura luz em escala atômica pela primeira vez

Para demonstrar sua técnica, os pesquisadores criaram imagens de ilhas de silício com apenas um átomo de espessura em uma superfície de prata.
[Imagem: Akitoshi Shiotari et al. – 10.1126/sciadv.adu1415]

Rompendo limites dos microscópios ópticos

Compreender a interação entre a luz e a matéria nas menores escalas possíveis é essencial para continuarmos avançando em vários campos da tecnologia e da ciência.

Por exemplo, estruturas em escala atômica – de defeitos nos diamantes, que podem funcionar como qubits para computadores quânticos, até componentes eletrônicos moleculares – permitem influenciar significativamente as propriedades ópticas e a funcionalidade de um material.

O primeiro desafio para estudar e desenvolver esses materiais está em ver no que se está mexendo. E, para enxergar nessas escalas, precisamos superar as capacidades atuais da microscopia óptica.

Akitoshi Shiotari e colegas da Alemanha, Espanha e Japão acabam de prover uma capacidade de zoom adicional aos microscópios ópticos, levando-nos para a precisão de 1 nanômetro, rumo à escala dos ângstrons, a unidade com que medimos o diâmetro dos átomos.

Para isso, a equipe desenvolveu uma nova abordagem para uma técnica chamada microscopia óptica de campo próximo com varredura por espalhamento (s-SNOM: Scattering-Type Scanning Near-Field Optical Microscopy). Com as melhorias introduzidas, a técnica teve que ser rebatizada, passando a se chamar ULA-SNOM, com a primeira sigla significando amplitude de oscilação de ponta ultrabaixa.

Microscópio captura luz em escala atômica pela primeira vez

O novo microscópio mede a condutividade elétrica por meio da microscopia de tunelamento de varredura, as forças mecânicas por meio da microscopia de força atômica e as propriedades ópticas por meio do espalhamento de luz.
[Imagem: Akitoshi Shiotari et al. – 10.1126/sciadv.adu1415]

Microscopia combinada

Os microscópios ópticos típicos têm um limite fundamental de ampliação, chamado barreira de difração, que restringe a resolução a cerca de 200 nanômetros (nm), que é cerca de metade do comprimento de onda da luz visível. Já os métodos tradicionais de s-SNOM, que utilizam uma ponta de sonda iluminada a laser para escanear superfícies, normalmente alcançam resoluções de 10 a 100 nm.

No entanto, isso é insuficiente para imagens em escala atômica. A combinação dos métodos avançados de microscopia permitiu visualizar materiais em nível atômico.

A inovação consistiu em usar uma ponta de prata sob iluminação a laser visível em um microscópio de força atômica sem contato. A ponta oscila para lá e para cá com uma amplitude entre 0,5 e 1 nm. Isso permitiu criar uma cavidade plasmônica, um campo de luz confinada em um volume minúsculo (1 nm3), permitindo obter um contraste óptico detalhado na escala de ângstrom.

A capacidade de obter imagens de características como defeitos atômicos e estruturas em nanoescala com tanta precisão abre novas possibilidades para a engenharia óptica e a ciência dos materiais.

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